J200 Femto iX LA 激光燒蝕（LA）進行有效的時間分辨ICP-MS信號處理，簡單的定量分析，核心是緊湊而堅固的激光源，J200 Femto iX具有硬核的硬件設計，包括智能運輸氣體控制，自動樣品高度調節，高分辨率3D樣品臺，創新的樣品池和LIBS（激光誘導擊穿光譜）附加功能，主體包括激光源、激光束傳輸光學器件、Flex樣品室、氣體流量控制系統以及LIBS檢測器。為了節省寶貴的實驗臺空間，激光電源模塊可以從主機中分離出來，放置在實驗臺下面。
產品優勢:
1、高分辨率的雙CMOS鏡頭，用于高倍放大和大視野預覽，支持光學變焦；
2、智能運輸氣體控制，自動調整樣品高度；
3、固態鋰離子電池裝置深度剖面的激光誘導擊穿光譜分析；
4、雙路數字流量控制器，可選第三個流量控制器（用于氮氣或其他氣體）；
5、數字化質量流量控制器和電子控制閥，用于氬氣、氦氣及補充氣體的輸送。
產品特點：
1、高分辨率3D樣品臺，創新的樣品池；
2、負擔得起的費用，維護成本低；
3、智能運輸氣體控制，自動調整樣品高度；
4、高精度，準確度和靈敏度，緊湊的臺式設計。
J200 Femto iX LA 激光燒蝕（LA）生產于美國ASI公司，是一款專門對玻璃以及樣品進行研究的等離子質譜儀，可進行有效的時間分辨ICP-MS信號處理，簡單的定量分析，2D/3D元素成像和樣品存取，該設備采用的是緊湊的臺式設計，超快激光采樣技術，可在幾秒內檢測出樣品的詳細參數，使用起來非常的方便，分析了NIST玻璃SRM（玻璃中的痕量元素）以確定可以檢測的質量并確定檢測限（LOD），該設備擁有簡易的操作方式和便捷的安裝流程以及非常簡單操作模式，使用起來更方便。
