J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統能夠快速而準確地識別復雜的LIBS發射峰。特定的搜索標準(波長范圍、元素組、等離子體激發狀態)可以用來在短時間內縮小搜索范圍。TruLIBS?允許用戶從Axiom LA軟件直接加載實驗庫LIBS光譜來識別和標記峰值，通過將多個硬件指令組合在一起，并及時對它們進行排序，Axiom LA創建了一個存儲“方案”。方案一經創建，之后就可以將它們調出，并將它們組合，以提供高度自動化的檢測體驗。我們只需“調出”整個方案以重復實驗，或者復制方案的一部分，將其與新的指令結合起來，以解決新的采樣方案。
設備特點：
1、緊湊型微集氣管設計，以消除脫氣和記憶效應；
2、高硬度Q開關，短脈沖Nd:YAG激光器波長低至213nm；
3、可將LIBS強度和時間分辨的ICP-MS信號轉換為選定元素的非常詳細的2D/3D圖。
設備優勢：
1、針對雙重LA/LIBS性能而設計的緊湊、模塊化系統，J200系統在于其模塊化系統的設計；
2、自動調整樣品高度，保證激光剝蝕的一致性J200采用了一種自動調高傳感器，該傳感器的設計考慮到了樣品表面的形態變化；
3、具有可互換鑲嵌模塊的Flex樣品室，以優化氣流和微粒沖洗性能根據測量目標(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等)。
J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統是由ASI公司所生產，ASI公司是一家專門生產光譜儀的公司，在技術上和功能上以及安全性能上都是比較完善和成熟的，該設備對于確定樣品表面的污染物、執行涂層分析、了解薄膜結構以及識別位于其下方的夾雜物是一項非常有價值的功能，并可觀察從樣品中收集到的一組LIBS光譜和質譜之間的差異，通過參考標準濃度值直接賦值給LIBS或ICP-MS強度，單變量校準曲線可輕松生成，可以用于精確定量分析的高級校準模型，LIBS光譜和質譜可以形成光譜庫的基礎，使用起來非常的簡單方便，而且還比較經濟實用。
