產品介紹AE8500 光譜分析儀
AE8500是德力公司推出的一種用于光纖信號光譜分析的衍射光柵光譜分析儀,工作于1250nm至1650nm波長范圍內,大分辨率可達60pm,測量功率+25dBm,功率靈敏度低至一80dBm。
AE8500豐富的專業APP應用,可用于半導體激光器( DFB、 FP)光譜特征測量、 WDM系統測試、 EDFA系統參數測試、 透過率和漂移測試。 AE8500*的穩定性和可靠性,極快速的光譜掃描速度,開放的數據輸出,可幫助您完美應對來自光譜測試的各種挑戰。
AE8500系列主要技術指標AE8500 光譜分析儀
光譜測量 | ||||
波長范圍 | 1250nm~1650nm | |||
分辨率帶寬 | 0.06nm | |||
分辨率設置 | 0.06nm、0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、2nm | |||
波長精度 | ±0.05nm | |||
波長可重復性 | ±0.01nm | |||
波長線性度 | ±0.01nm | |||
屏幕小分辨率 | 0.005nm | |||
功率測量 | ||||
輸入功率范圍 | +25~-80dBm | |||
大峰值輸入功率 | ±26dBm | |||
功率精度 | ±0.5dB | |||
功率線性度 |
±0.07dB | |||
光衰減率 | 38~42dB(±0.2nm);46~52dB(±0.4nm) | |||
采樣點數 | 80000 | |||
ORL | >35dB | |||
偏振相關性 | ±0.05dB | |||
OSNR測試動態 | >35dB | |||
OSNR測試不確定度 | ±0.5dB | |||
掃描速度 | 0.8s/400nm | |||
通用技術規格參數 | ||||
顯示 | 12.1in 1280×800點陣 TFT 觸摸屏 | |||
接口 | USB2.0 ×4, USB供電 DC5V±0.05V@500mA;RJ45×1, LAN,10M/100M,RS232-DB9;SD×1,支持大32G | |||
光接口 | 單模光纖UPC標配 APC選配;FC標配 SC選配 | |||
存儲 | 8GB內存;8GB SD卡 | |||
工作溫度 | 0~50℃ | |||
存儲溫度 | -20~60℃ | |||
電源 | 交流:90-240V 1.5A 50~60Hz;直流:12V 2.5A 大 |
光譜測量 | ||||
波長范圍 | 1250nm~1650nm | |||
分辨率帶寬 | 0.06nm | |||
分辨率設置 | 0.06nm、0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、2nm | |||
波長精度 | ±0.05nm | |||
波長可重復性 | ±0.01nm | |||
波長線性度 | ±0.01nm | |||
屏幕小分辨率 | 0.005nm | |||
功率測量 | ||||
輸入功率范圍 | +25~-80dBm | |||
大峰值輸入功率 | ±26dBm | |||
功率精度 | ±0.5dB | |||
功率線性度 |
±0.07dB | |||
光衰減率 | 38~42dB(±0.2nm);46~52dB(±0.4nm) | |||
采樣點數 | 80000 | |||
ORL | >35dB | |||
偏振相關性 | ±0.05dB | |||
OSNR測試動態 | >35dB | |||
OSNR測試不確定度 | ±0.5dB | |||
掃描速度 | 0.8s/400nm | |||
通用技術規格參數 | ||||
顯示 | 12.1in 1280×800點陣 TFT 觸摸屏 | |||
接口 | USB2.0 ×4, USB供電 DC5V±0.05V@500mA;RJ45×1, LAN,10M/100M,RS232-DB9;SD×1,支持大32G | |||
光接口 | 單模光纖UPC標配 APC選配;FC標配 SC選配 | |||
存儲 | 8GB內存;8GB SD卡 | |||
工作溫度 | 0~50℃ | |||
存儲溫度 | -20~60℃ | |||
電源 | 交流:90-240V 1.5A 50~60Hz;直流:12V 2.5A 大 |