UHAST加速老化試驗箱廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。UHAST加速老化試驗箱的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
體結構及安全裝置：
1、內膽圓形橫置式內槽結構設計方便使用者取置待測物品，可預防試驗中有滴水結露現象，可避免蒸汽過熱
直接沖擊操作人員。
2、安全程序自動停機，自動泄壓，自動破真空，自動給水，可加載持續運行。
3、采用溫度與壓力安全檢知及門禁自動鎖定控制系統，圓型測試槽與安全門環扣結構設計，當內箱壓力越大
時，反壓會迫使安全門與箱體更加緊密之結合，故內箱壓力必須小于正常壓力時，測試門才能被打開，因
此而保證了操作人員的安全。
4、具備異常故障訊號警示功能
產品應用范圍：
適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、半導體、線路板，多層線路板、IC、PCB、LCD、Board、電池、電容、電阻、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測，相關之產品作加速壽命試驗，使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的耐厭性，氣密性等。
型 號 | UHAST-ZT-300 | UHAST-ZT-400 | UHAST-ZT-300T | UHAST-ZT-400T |
內部尺寸(W×H×D)cm | Φ30×50 | Φ40×50 | Φ30×50 | Φ40×50 |
外箱尺寸(W×H×D)cm | 68×150×75 | 78×160×75 | 68×150×75 | 78×160×75 |
使用溫度范圍 | +100℃ ～ +132℃ | +100℃～+143℃ （+155℃特殊選購) | ||
壓力范圍 | 0.2~2.0Kg/cm2 （0.05~0.196mpa） | 0.2 ~3.0Kg/cm2 （0.05~0.294mpa） | ||
溫度均勻度 | ≤±0.5℃（濕度100％R.H） ≤±1.0℃（濕度75％R.H） | |||
溫度波動度 | ≤±0.5℃ | |||
濕度范圍 | 75％~100％R.H | |||
濕度均勻度 | ≤±3.0％R.H | |||
濕度波動度 | ≤±2.5％R.H | |||
循環方式 | 水蒸氣自然對流循環 | |||
BIAS偏壓端子（選購） | 依據用戶需求定制 | |||
安全保護裝置 | 缺水保護，超壓保護、 (具有自動/手動補水功能，自動瀉壓功能) | |||
標準配置 | 測試置架、樣品盤、壓力信號傳輸顯示、（試驗數據記錄器選配) | |||
控制器系統 | 采用7寸TFT彩色觸控式控制器附帶P.I.D 自動演算功能 | |||
通訊 | LAN網口電腦連接，USB數據下載保存 | |||
電 源 | AC220V，50Hz | |||
