非接觸光學輪廓儀 SURFIEW 3000
三維表面輪廓儀利用光的干擾，可迅速，準確，并高檢測性的對1nm~10mm高度的模型的表面想象進行納米單位測量。相比接觸性方式，不會對測量物造成任何損傷，相比共焦方式，高解像力無關倍率均可得到統一結果，與AFM相比，可在寬測量領域內快速測量。
Premium
反復性、準確性、重現性
框架一體型
自動鏡頭調整鈕
優秀的Capacity Sensor
自動濾鏡
縫紉功能
自動對焦功能
安裝2個變焦距鏡頭
產品概要
三維表面輪廓儀利用光的干擾，可迅速，準確，并高檢測性的對1nm~10mm高度的模型的表面想象進行納米單位測量。相比接觸性方式，不會對測量物造成任何損傷，相比共焦方式，高解像力無關倍率均可得到統一結果，與AFM相比，可在寬測量領域內快速測量。
應用領域
主要特征
測量高度，長度，段差，線，圓，弧，角度，款，寬，距離
面粗糙度，線粗糙度，波形
測量劃痕，磨損，缺陷
測量面積，大小
測試原理
利用光的干涉信號，將表面的形狀到1nm~10cm為止，沒有材料的破損，從相機中顯示的全部領域，正確，檢測到高強度為單位。
干涉信號是在任意義的基準點中，同時出現的光在移動到不同的場景（optical path），在移動后合上的時候，用兩個場景（optical path）的物理現象，是一種明亮的明亮的形態，這是干涉信號。
