MKL200 系列射頻導(dǎo)納液位計(jì)MKL200系列為通用型物位儀表用于連續(xù)物位測(cè)量，產(chǎn)品應(yīng)用于工礦現(xiàn)場(chǎng)，適用于 大多數(shù)應(yīng)用場(chǎng)合，儀表由一個(gè)電路單元一套防爆外殼和桿式或纜式傳感元件組成，傳 感器有多種型號(hào)可選，儀表可選整體或分體安裝。

MKL200 系列射頻導(dǎo)納液位計(jì) 第二個(gè)問(wèn)題是對(duì)于導(dǎo)電被測(cè)介質(zhì)，探頭絕緣層表面的接地點(diǎn)覆蓋了整個(gè)被測(cè)介質(zhì)及掛料

區(qū)，使有效測(cè)量電容擴(kuò)展到掛料的頂端，這樣便產(chǎn)生掛料誤差，且導(dǎo)電性越強(qiáng)誤差越大。但 任何被測(cè)介質(zhì)都不是*導(dǎo)電的。從電學(xué)角度來(lái)看，掛料層相當(dāng)于一個(gè)電阻，傳感元件被掛 料覆蓋的部分相當(dāng)于一條由無(wú)數(shù)個(gè)無(wú)窮小的電容和電阻元件組成的傳輸線。根據(jù)數(shù)學(xué)理論， 如果掛料足夠長(zhǎng)，則掛料的電容和電阻部分的阻抗相等。因此根據(jù)對(duì)掛料阻抗所產(chǎn)生的誤差 研究，又增加一個(gè)交流驅(qū)動(dòng)器電路。該電路與交流變換器或同步檢測(cè)器一起就可以分別測(cè)量 電容和電阻。由于掛料的阻抗和容抗相等，則測(cè)得的總電容相當(dāng)于C+C掛料，再減去與C掛料相等的電阻R，就可以實(shí)際測(cè)量真實(shí)值，從而排除掛料的影響。

測(cè)量原理

射頻導(dǎo)納是一種從電容式發(fā)展起來(lái)的、防掛料、更可靠、更準(zhǔn)確、適用性更廣的新型物位控制技術(shù)，是電容式物位技術(shù)的升級(jí)。所謂射頻導(dǎo)納，導(dǎo)納的含義為電學(xué)中阻抗的倒數(shù)，它由 電阻性成分、電容性成分、感性成分綜合而成，而射頻即高頻無(wú)線電波譜，所以射頻導(dǎo)納可以 理解為用高頻無(wú)線電波測(cè)量導(dǎo)納。儀表工作時(shí)，儀表的傳感器與罐壁及被測(cè)介質(zhì)形成導(dǎo)納值， 物位變化時(shí)，導(dǎo)納值相應(yīng)變化，電路單元將測(cè)量導(dǎo)納值轉(zhuǎn)換成物位信號(hào)輸出，實(shí)現(xiàn)物位測(cè)量。 對(duì)于連續(xù)測(cè)量，射頻導(dǎo)納技術(shù)與傳統(tǒng)電容技術(shù)的區(qū)別除了上述講過(guò)的以外，還增加了兩個(gè) 很重要的電路，這是根據(jù)對(duì)導(dǎo)電掛料實(shí)踐中的一個(gè)很重要的發(fā)現(xiàn)改進(jìn)而成的。上述技術(shù)在這時(shí) 同樣解決了連接電纜問(wèn)題，也解決了垂直安裝的傳感器根部掛料問(wèn)題。所增加的兩個(gè)電路是振蕩器緩沖器和交流變換斬波器驅(qū)動(dòng)器。 對(duì)一個(gè)強(qiáng)導(dǎo)電性被測(cè)介質(zhì)的容器，由于被測(cè)介質(zhì)是導(dǎo)電的，接地點(diǎn)可以被認(rèn)為在探頭絕緣層的表面，對(duì)變送器來(lái)說(shuō)僅表現(xiàn)為一個(gè)純電容。隨著容器排料，探桿上產(chǎn)生掛料，而掛料是具 有阻抗的。這樣以前的純電容現(xiàn)在變成了由電容和電阻組成的復(fù)阻抗，從而引起兩個(gè)問(wèn)題。

 *個(gè)問(wèn)題是液位本身對(duì)探頭相當(dāng)于一個(gè)電容，它不消耗變送器的能量，（純電容不耗 能）。但掛料對(duì)探頭等效電路中含有電阻，則掛料的阻抗會(huì)消耗能量，從而將振蕩器電壓拉下 來(lái)，導(dǎo)致橋路輸出改變，產(chǎn)生測(cè)量誤差。我們?cè)谡袷幤髋c電橋之間增加了一個(gè)緩沖放大器，使 消耗的能量得到補(bǔ)充，因而不會(huì)降低加在探頭的振蕩電壓。