Bowman XRF系統使用專門設計的微點聚焦X射線管作為能源，溫度穩定的硅PIN二極管作為探測器，寬帶寬，多通道放大器用于對輻射光子進行分類和計數。 Bowman Xralizer軟件采用*的算法來測量檢測到的光子中材料的厚度。

通過微焦點相機對準X射線光學軸線選擇樣品的測試區域。 由聚焦激光控制的平臺能容納不同高度的樣品。

膜厚儀廠家，美國博曼測厚儀Bowman XRF涂層測量系統符合行業對精度，可靠性和易用性的嚴格要求。 緊湊，符合人體工程學的設計使分析便于每個應用 - 保證價格可以快速實現投資回報。

膜厚儀廠家，美國博曼測厚儀全系列產品滿足用戶不同的測量需求

• G系列 珠寶業的過渡金屬分析
• B系列 小型電鍍樣品
• P系列 “多面手”，適用于電子，常規電鍍，貴金屬
• O系列 較大測量點的薄膜分析
• M系列 采用µ-spot多導毛細管技術，分析極小測量點的薄膜
• L系列 大型電鍍樣品
• W系列 用于測量微電子領域的小特征

• 智能化設計，強大的分析

• 幾秒內完成金屬鍍層無損分析
• 成分分析多可分析25種元素
• 同時測量多達五個涂層，所有涂層都可以是合金
• 基礎參數法-半定量分析厚度與成分
• 輕松設置和操作 - 一根USB完成連接
• 簡潔的前控制面板
• 占地面積小，節約空間
• 輕量化設計，方便挪動

• 直觀的用戶界面

• 提供分析靈活性，同時減少用戶出錯機會
• 基于框架 Xralizer 軟件
• 直觀的圖標引導用戶界面
• 強大的定性/無標樣分析功能
• 功能強大的標準片庫
• 可定制快捷鍵，方便操作
• 靈活的數據顯示和導出
• 強大的報告編輯器

• 性能，強大，便利

• 緊密耦合的幾何設計*提高測量效率和精度
• 經驗證的固態探測器可提供更高的分辨率，穩定性和靈敏度
• 儀器預熱時間短，X射線管燈絲壽命長
• 可實現銀、錫的L線薄膜分析
• 多位置一次濾波器與多規格準直器可供選擇
• 靈活的焦距為復雜形狀或厚度較大的樣品提供測量便利
• 模塊化組件設計，維護簡