一、儀器的用途:偏光顯微鏡 XPF-400C XPF-400系列礦相顯微鏡又稱巖礦顯微鏡、巖石顯微鏡,適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業用于觀察透明、半透明或不透明的物質,如金屬陶瓷、集成塊、印刷電路板、液晶板、薄膜、纖維、鍍涂層以及其它非鑫屬材料。礦相顯微鏡也適合農林、學校、科研部門作觀察分析用。礦相顯微鏡廣泛應用于生物學、細胞學、組織學、化學等研究工作。適用于衛生機構、環境保護單位、實驗室、研究所及高等院校等單位。 二、技術參數偏光顯微鏡 XPF-400C 1.目鏡:
| ||||||||||||||||||
2.物鏡:
3.光學放大倍數:40X-1600X,系統參考放大倍數:50X-2600X
三、系統簡介: 偏光顯微鏡系列XPF–400系列可作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件,是一組具有較完備功能和良好品質的新型產品.本儀器的具有可擴展性,可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。
四、系統組成 電腦型偏光顯微鏡(XPF-400C): 1、偏光顯微鏡 2、同軸照明器 3.攝像器(CCD) 4.A/D(圖像采集) 5、計算機 數碼相機型偏光顯微鏡(XPF-400D):: 1、偏光顯微鏡 2、適配鏡 3、數碼相機 |