SE-VM光譜橢偏儀
E-VM是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可實現科研/企業級高精度快速光譜橢偏測量，支持多角度，微光斑，可視化調平系統等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設計。
概述SE-VM光譜橢偏儀
SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度，微光斑，可視化調平系統等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設計。
SE-VM光譜橢偏儀
高精度橢偏測量解決方案； 超高精度、快速無損測量； 支持多角度、微光斑、可視化調平系統功能模塊靈活定制； 豐富的數據庫和幾何結構模型庫，保證強大數據分析能力。 |
產品特點
采用高性能進口復合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (380-1000nm)；
高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置，實現Psi/Delta光譜數據高速采集；
數百種材料數據庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料；
產品應用
廣泛應用于鍍膜工藝控制、tooling校正等測量應用,實現光學薄膜、納米結構的光學常數和幾何特征尺寸快速的表征分析。
武漢頤光科技有限公司（Wuhan Eoptics Technology Co,Ltd）是一家專業從事光學儀器設備研發及光機電產品制造、銷售的*。公司由一批歸國留學人員創辦，與華中科技大學緊密合作，現有員工80%以上擁有碩士或博士學位，是光學儀器設備領域技術優勢的技術團隊。
頤光科技注冊于武漢東湖國家自主創新示范區，立足光谷，面向，為用戶提供光學散射測量儀等系列產品，并提供儀器、軟件、服務等綜合解決方案。產品廣泛應用于集成電路、半導體、光伏太陽能、平板顯示、LED照明、存儲、生物、醫藥、化學、電化學、光學鍍膜和保護膜、減反膜、光刻材料等眾多領域。
