攜式電阻率測試儀
儀器采用GB/T 1552-1995硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針法
（2） 范圍：電阻率10-4～10+4歐姆·厘米，分辨率為10-4歐姆·厘米
方塊電阻10-3～10+5歐姆/□，zui小分辨率為10-3歐姆/□
（3） 可測量材料：半導體材料硅鍺棒、塊、片、導電薄膜等
四探針電阻率測試儀的主要技術指標
（1） 儀器采用GB/T 1552-1995硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針法
（2） 范圍：電阻率10-4～10+4歐姆·厘米，分辨率為10-4歐姆·厘米
方塊電阻10-3～10+5歐姆/□，zui小分辨率為10-3歐姆/□
（3） 可測量材料：半導體材料硅鍺棒、塊、片、導電薄膜等
可準確測量的半導體尺寸：直徑≥20㎜
可測量的半導體尺寸：直徑≥8㎜
（4） 測量方式：平面測量。
（5）電壓表：雙數字電壓表，可同時觀察電流、電壓變化
A.量程0~199.99 mV
B.基本誤差±（0.004%讀數+0.01%滿度）
C.輸入阻抗﹥1000MΩ
D. 4 1/2位數字顯示，0～19999
（6） 恒流源：
A.電流輸出：直流電流0.003～100 mA連續可調，有交流電源供給
B.量程：10uA，100uA，1 mA，10 mA，100 mA五檔
C.恒流源精度：各檔均≤±0.05%
（7） 四探針測試探頭
A.探頭間距1.59㎜
B.探針機械游率：±0.3%
C.探針直徑0.8㎜
D.探針材料：碳化鎢，探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109歐姆。
（8） 便攜式電阻率測試儀手動測試架：
JCKDJ-1A 型手動測試架探頭上下由手動操作，可以用作斷面單晶棒和硅片測試，探針頭可上下移動距離：120mm，測試臺面200x200（mm）。
（9） 便攜式電阻率測試儀測量軟件：
JCKDY測量系統微控制器及配套軟件于硅晶體的電阻率測量，集多種測量方法為一體，是與JCKDY-1電阻率測試儀配套使用，自動獲取電壓讀數，計算并修正電阻率值，數據自動保存，快速查詢，提供打印及數據導出到Excel中，操作簡單，方便可靠。
（10 ） 四探針電阻率測試儀精度
電器精度：1-1000歐姆≤0.3 %
整機測量精度：1-500歐姆·厘米≤3%
（11）電流：220V±10%，50HZ，功率消耗﹤35W
