QE Pro光譜儀具有的高靈敏度與寬動態范圍的特性使其成為了同等級中性能高的微型光譜儀。其超高的性能可以大大提高吸光度、反射率、熒光與拉曼檢測的精確度。而對于一些更高要求的測試，其可容納15000張光譜的緩沖區可以在高速采集中保證數據的完整性，同時其*的光學設計與熱電致冷器件可以大大提高長時間檢測的熱穩定性。因此無論是高速測量或寬濃度范圍的檢測，QE Pro都能為您的實驗室或在線應用提供的性能表現。
QE Pro光譜儀技術參數
波長范圍 | 可在185-1100nm范圍內配置 |
光學分辨率 | 0.14-7.7nm(FWHM)，取決于具體配置 |
系統信噪比 | 1000：1 |
A/D分辨率 | 18bit |
動態范圍 | 85，000（典型） |
雜散光 | <0.08% at 600 nm;0.4% at 435 nm |
緩沖區 | 可容納15，000張譜圖 |
TE制冷 | 低可致冷至比室溫低40攝氏度。使用溫度范圍-40度至50度。 |
寬動態范圍
由于采用了低噪音的電子部分與18位A/D轉換器，QE Pro的動態范圍是常見的背照薄型CCD陣列微型光譜儀的2倍，同時其靈敏度也提高了2倍。這些改進可以為實際應用帶了很多好處，如可以使得吸光度或熒光檢測的檢出限更低，并可以在更寬的濃度范圍內進行檢測。
用于快速檢測的緩沖區
為了更好地支持快速的全譜數據采集，我們增大了板載緩沖區，使其現在可儲存15,000光譜，從而在USB通訊的條件下，可以通過緩沖時間標簽光譜來保證數據的完整性。因此在進行全譜動力學檢測時，您可獲得8ms/張或高125張/秒的全譜動力學數據。
可靠性能
熱電致冷可精確的控制檢測器的溫度，大大的降低熱噪聲的影響，從而改進長時間檢測時的檢測器的整體穩定性。QE Pro配備的熱電致冷器件可在室溫變化60度以上的情況下保持暗噪聲穩定在4 counts，從而給您高質量的數據。QE Pro的高穩定性表現使其非常適合于那些要求嚴苛的，對溫度變化非常敏感的在線或線旁質量控制檢測。
用于定位QE Pro中的光學器件的動態裝配大大提高了QE Pro的準確性與可靠性。同時，新的RS-232通訊協議允許QE Pro的 Firmware可以進行現場升級，使得您總是可以擁有新功能的產品。
