SL-300光譜輻射分析儀
新設計的，比傳統光譜儀的測量速度大幅提高的掃描型光譜輻射分析儀，功能全，性價比高。根據CIE No.63指南要求，全光譜法測量各種光源及半導體發光器件的光譜功率分布、色品坐標、色溫、顯色指數、色容差、色偏差、顏色純度和主波長、光通量、亮度、輻射功率、光生物指數、發光效率等參數。廣泛應用于熒光燈、高強度氣體放電燈、鹵鎢燈、半導體發光器件，植物生長及科研光源等光、色分析。
SL-300光譜輻射分析儀
功能：新設計的，比傳統光譜儀的測量速度大幅提高的掃描型光譜輻射分析儀，功能全，性價比高。根據CIE No.63指南要求，全光譜法測量各種光源及半導體發光器件的光譜功率分布、色品坐標、色溫、顯色指數、色容差、色偏差、顏色純度和主波長、光通量、亮度、輻射功率、光生物指數、發光效率等參數。廣泛應用于熒光燈、高強度氣體放電燈、鹵鎢燈、半導體發光器件，植物生長及科研光源等光、色分析。
SL-300光譜輻射分析儀 
性能指標：
◆ 符合CIE、IEC及GB/T相關標準
◆ 全光譜法測量光色參數，*
◆ 波長范圍：380nm~800nm
◆ 波長精度：0.2nm
◆ 探測器：HAMAMATSU光電倍增管
◆ 測量速度：30s/400nm
◆ 測量參數：光譜功率（輻射）分布、色品坐標、色溫、顯色指數、光通量、輻射通量﹡、發光效率﹡
