SID4-SWIR近紅外波前分析儀
近日，法國Phasics為滿足客戶需求，推出基于的四波橫向剪切干涉技術和高性能InGaAs探測器的高性價比SID4-SWIR近紅外波前分析儀，波段范圍900-1700nm，采樣點數量高達5120（80*64），靈敏度2nm，動態范圍100μm，采樣頻率120Hz。具有非常高的空間分辨率和靈敏度。確保測量紅外鏡頭和短波紅外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光譜范圍從0.9到1.7µm，這種波前傳感器覆蓋可見光、近紅外和短波紅外區域且不需要任何校準直接進行測量。
關于Phasics：法國PHASICS公司自主研發的波前傳感器是基于其的四波橫向剪切干涉技術。相較傳統的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態檢測范圍、操作簡便等*的優勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析等提供了全新的解決方案。 法國PHASICS波前傳感器生產廠家具有雄厚的技術研發實力，能為客戶提供的各種自適應光學系統OA-SYS，制定個性化解決方案。可根據客戶的應用需求。
關于上海屹持：上海屹持光電技術有限公司作為Phasics中國區域代理商，同時也是一家專業從事激光領域相關產品的研發、引進、銷售、方案設計、組裝集成、技術服務的現代高科技企業。團隊成員具有專業光電背景和*從業經驗，利用自身的專業優勢將*的科研設備及服務提供給用戶。從單個產品到整體解決方案，從商務服務到，均獲得了廣大用戶的肯定和信賴。
波前分析儀主要應用領域：
激光光束參數測量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直徑，澤尼克/勒讓德系數
自適應光學：焦斑優化，光束整形
元器件表面質量分析：表面質量（RMS，PtV，WFE），曲率半徑
光學系統質量分析：MTF, PSF, EFL, 澤尼克系數, 光學鏡頭/系統質量控制
熱成像分析，等離子體特征分析
生物應用：蛋白質等組織定量相位成像
參數
波長范圍 | 0.9-1.7μm |
通光孔徑 | 9.6 x 7.68 mm2 |
空間分辨率 | 120 µm |
采樣點（相位/強度） | 80 x 64 (> 5 000 points) |
相位相對靈敏度 | <2nm RMS |
相位精度 | 15nm RMS |
動態范圍 | 100μm |
采樣頻率 | 120 fps |
實時分析頻率 | 7 fps (full resolution) |
數據接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 100x 55 x 63 mm |
重量 | 455g |
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